DOI： 10.16661/j.cnki.1672-3791.2602-5042-3538

关键词： 大豆 外观缺陷检测 轻量化 SLD-YOLO

中图分类号：S565.1;TP183

文献标识码：A

文章编号： 1672-3791（2026）12-0252-05

Research on Appearance Defect D（试读）...