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基于改进YOLOv8n的PCB缺陷检测算法-现代电子技术2026年11期

基于改进YOLOv8n的PCB缺陷检测算法

作者:刘正 王利众 梁骁 字体:小   中   大

关键词:缺陷检测;YOLOv8n;BiFPN;SE注意力机制;轻量化;Lite-Head

中图分类号:TN911.73-34;TP391.4

文献标识码:A

文章编号:1004-373X(2026)11-0150-09

PCB defect detection algorithm based on improved (试读)...

现代电子技术

2026年第11期